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(Code)Interactive Incremental Defect Detection Framework with Macro-Probability-Controlled Adaptive Learning

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发表刊物：IEEE Transactions on Industrial Informatics

摘要：Demo code is updated on https://github.com/gyfseer/SAIM

全部作者：Yifei Gong,Jiacheng Li,Wailok Woo

第一作者：Jun Yang

通讯作者：Bin Gao

是否译文：否

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