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    高斌

    • 教授 博士生导师
    • 性别：男
    • 毕业院校：英国纽卡斯尔大学
    • 学历：博士研究生毕业
    • 学位：哲学博士学位
    • 在职信息：在职人员
    • 所在单位：自动化工程学院
    • 学科：信号与信息处理
      检测技术与自动化装置
      测试计量技术及仪器
    • 办公地点：C2-403
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    Spatial-frequency spectrum characteristics analysis with different lift-offs for Microwave Non-destructive Testing and Evaluation using Itakura-Saito Nonnegative Matrix Factorization

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    发表刊物：IEEE Sensors Journal

    摘要：Microwave non-destructive testing and evaluation (NDT&E) has tremendous potential for defect detection in metallic materials. In this paper: 1) An open-ended waveguide based scanning system operating in the X-band (8.2GHz to 12.4GHz) with a spatial-frequency feature extraction algorithm for defect detection at large lift-offs is presented; 2) A full mathematical derivation for modelling the spatial-frequency characteristics in the presence of defects and without defects is provided; 3) A spatial-frequency feature extraction algorithm using the NMF developed and investigated.

    全部作者： Anthony Simm, W.L. Woo, Gui Yun Tian, Bin Gao,Hong Zhang

    通讯作者：Bin Gao

    卷号：14

    期号：6

    页面范围：1822 – 1830

    是否译文：否

    发表时间：2014-04-14

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