周琦
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发表刊物:Electronics
全部作者:Rong Peng,Shuting Huang,Long Wang,Jianggen Zhu,Enchuan Duan,Bo Zhang,Qi Zhou
第一作者:Kuangli Chen
卷号:14
期号:7
是否译文:否
发表时间:2025-03-27
下一条:Study of the Short-Circuit Capability and Device Instability of p-GaN Gate HEMTs by Repetitive Short-Circuit Stress