周琦中文主页电子科技大学主页平台管理系统

周琦

教授博士生导师
性别：男
毕业院校：香港科技大学
学历：博士研究生毕业
学位：哲学博士学位
学科：微电子学与固体电子学
曾获荣誉：中国电子学会优秀科技工作者（2017）
四川省电子学会“电子科学技术奖”一等奖（2015）

访问量：

开通时间 : ..

最后更新时间 : ..

同专业博导

当前位置: 中文主页 >> 科学研究 >> 论文成果

Trap Dynamic Detection of GaN HEMT under Repetitive Short Circuit Degradation

发表刊物：2023 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)

是否译文：否

发表时间：2023-05-11

上一条：Lei Xia(雷霞) *, Maozhu Jin and Weihua Chen, Accelerating the convergence of the subspace decomposition channel estimation algorithm in OFDM system[J], Applied Mathematics & Information Sciences, 6(3):1055-1065, 2012. (SCI检索)

下一条：“无线通信中迭代均衡技术研究”