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    周琦

    • 教授 博士生导师
    • 性别：男
    • 毕业院校：香港科技大学
    • 学历：博士研究生毕业
    • 学位：哲学博士学位
    • 在职信息：在职人员
    • 所在单位：集成电路科学与工程学院（示范性微电子学院）
    • 职务 : Porfessor
    • 学科：微电子学与固体电子学
    • 曾获荣誉：中国电子学会优秀科技工作者（2017）
      四川省电子学会“电子科学技术奖”一等奖（2015）

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    Physical Mechanism of Device Degradation & its Recovery Dynamics of p-GaN Gate HEMTs Under Repetitive Short Circuit Stress

    发表刊物：Physical Mechanism of Device Degradation & its Recovery Dynamics of p-GaN Gate HEMTs Under Repetitive Short Circuit Stress

    页面范围：313-316

    是否译文：否

    发表时间：2022-06-28


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